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用于水稻测绘的方法、装置、电子设备及存储介质

Research output: Patents, agreements, assignments and companiesPatents granted

Abstract

本公开提供一种用于水稻测绘的方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取预设时间段内的耕地图像,耕地图像包括多个耕地地块;确定各个耕地地块在预设时间段内的最大归一化差异植被指数和最大归一化差异水指数,并确定当地植被的目标最大后向散射强度和当地水体的目标最小后向散射强度;获取各个耕地地块在预设时间段内各自的SAR时间序列数据;根据SAR时间序列数据确定各个耕地地块各自的局部最大后向散射强度和局部最小后向散射强度;根据各个耕地地块各自的局部最大后向散射强度和局部最小后向散射强度、以及当地植被的目标最大后向散射强度和当地水体的目标最小后向散射强度,确定各个耕地地块的目标水稻测绘指数。
Original languageChinese (Simplified)
Patent numberZL202211062951.2
Filing date31/08/22
Publication statusPublished - 21 Apr 2026

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