材料去除方法、控制系统、流体喷射抛光系统及存储介质

Chi Fai Cheung (Inventor), Chunjin Wang (Inventor), Mingyu Liu (Inventor), Lai Ting Ho (Inventor)

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Abstract

本发明提出应用于流体喷射抛光系统的材料去除方法、材料去除控制系统、以及具有材料去除控制系统的流体喷射抛光系统。该方法通过获取包括表面曲率的工件的表面抛光条件,确定对应于每个喷嘴的体积去除速率,并通过每个喷嘴的喷射压力与体积去除速率的对应关系确定喷嘴的喷射压力,另外进一步结合喷嘴的停留时间补偿计算的喷射压力。该方法克服传统的流体喷射抛光系统在每个喷射点上无法预测材料去除速率和控制抛光压力的缺陷,能够智能地适应UPFS的形状和强曲率变化并单独定制每个喷嘴的流体的抛光压力设定,以便大幅度增强抛光效率。
Original languageChinese (Simplified)
Patent numberZL 2018103008855
Filing date4/04/18
Publication statusPublished - 26 Oct 2021

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