Abstract
本发明提供了一种晶体管以及使用晶体管检测和/或确定样本中的分析物浓度的方法,该晶体管包括:源极电极;漏极电极;沟道,其包括在源极电极和漏极电极之间的有机半导体;多个栅极电极;以及电解质,其中电解质接触栅极电极和沟道,并且其中至少一个栅极电极包括氧化还原酶,且至少一个栅极电极不包括氧化还原酶,并且所述方法包括:(i)将电压施加到不包括氧化还原酶的至少一个栅极电极;(ii)接触晶体管中的测试样本;(iii)将在(i)中使用的电压施加到包括氧化还原酶的至少一个栅极电极;(iv)将电压从不包括氧化还原酶的至少一个栅极电极去除;其中(iii)和(iv)同时发生。
Original language | Chinese (Simplified) |
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Patent number | ZL 202011185482.4 |
Filing date | 30/10/20 |
Publication status | Published - 2024 |