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印刷缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

  • Ka Man LEE (Inventor)
  • , Kwon Tung Chung (Inventor)
  • , Sui Ying Chung (Inventor)

Research output: Patents, agreements, assignments and companiesPatents granted

Abstract

本公开提供一种印刷缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及计算机技术领域。该方法包括:获取待检测印刷产品的初始目标图像;获取与待检测印刷产品对应的参考图像;采用多种方式将初始目标图像向参考图像对齐,分别获得多个候选变换目标图像;基于多个候选预处理目标图像中各个候选变换目标图像与参考图像的相似程度确定变换目标图像;基于参考图像对变换目标图像进行颜色分布特征标准化处理,获得标准化变换目标图像;基于标准化变换目标图像
和参考图像获得最终差分结果,以根据最终差分结果检测待检测印刷产品的印刷缺陷。该方法实现了自动化地检测印刷缺陷。
Original languageChinese (Simplified)
Patent numberHK40110784
Filing date2/02/23
Publication statusPublished - 2026
Externally publishedYes

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