Abstract
本发明提供了一种原位透射电子显微镜(TEM)观测纳米颗粒生长的方法,取形成玻璃的原料成分与形成纳米颗粒的原料成分混合均匀,加热至熔融,降温以形成玻璃前驱体材料;将玻璃前驱体材料研磨成微米尺寸的颗粒,分散至TEM加热芯片上用于原位TEM测试;在TEM环境下将加热芯片加热到一定温度并保温,以观测纳米颗粒在玻璃前驱体中的形核、生长等过程。本发明的观测方法在原位条件下,纳米颗粒可以在玻璃前驱体材料中形核结晶、生长,可实现高温、高稳定性以及高分辨的原位TEM观测,操作更加简便,观测效果优异且可对纳米颗粒生长速度进行调节,对于推动、扩大纳米材料的研究和应用都具有重要的价值。
Original language | Chinese (Simplified) |
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Patent number | ZL 2017109530153 |
Filing date | 13/10/17 |
Publication status | Published - 24 Sept 2021 |